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shibuya高精度反射率測量裝置MSP-100 光學測量儀
shibuya高精度反射率測量裝置MSP-100 以未有的低成本實現微小區域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測量
更新日期：2023-11-13 訪問量：44
shibuya曲面反射率測量裝置MSP-100 以未有的低成本實現微小區域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測量
更新日期：2023-11-13 訪問量：30
ccsawaki反射率/透射率測量的光源FOLS-05 FOLS-05是一種光纖輸出寬帶光源，通過將三種類型的LED元件組合成一根光纖來輸出它們。
更新日期：2023-11-13 訪問量：29
日本p gauges光纖耦合LED光源LDS1007 光學測量儀
日本p gauges光纖耦合LED光源LDS1007 LDS1007是一款緊湊、輕便、低成本的LED光源，將光纖耦合高輸出LED與電源和驅動電路相結合。 無需調整，LED燈在電源打開后立即從光纖端輸出。
更新日期：2023-11-09 訪問量：59
koshin kogaku可調諧激光器KLS-201A系列 光學測量儀
koshin kogaku可調諧激光器KLS-201A系列 標準型號，除了O波段到U波段之外，還覆蓋1220nm波段（波長安裝分辨率：0.1nm）
更新日期：2023-11-03 訪問量：138
koshin kogaku半導體激光光源KLS-601A系列 光學測量儀
koshin kogaku半導體激光光源KLS-601A系列 該產品是一種亞納秒Nd：YAG脈沖激光器，振蕩波長為1064 nm。
更新日期：2023-11-03 訪問量：108
koshin kogaku可調諧激光器KLS-601A系列 光學測量儀
日本optoquest微芯片激光器 該產品是一種亞納秒Nd：YAG脈沖激光器，振蕩波長為1064 nm。
更新日期：2023-11-03 訪問量：112
日本sena TFT透鏡表面檢查燈185LE-AL 光學測量儀
日本sena TFT透鏡表面檢查燈185LE-AL 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
更新日期：2023-09-21 訪問量：186
日本sena TFT面板目視檢查燈185LE-AL 光學測量儀
日本sena TFT面板目視檢查燈185LE-AL 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
更新日期：2023-09-21 訪問量：195
日本sena玻璃基板目視檢查燈185LE-AL 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
更新日期：2023-09-21 訪問量：172
日本sena目視晶圓檢查燈185LE-AL 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
更新日期：2023-09-21 訪問量：189
日本sena彩色濾光片檢查燈185LE-AL 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
更新日期：2023-09-21 訪問量：169
林時計特殊圖像處理近紅外光源LA-100IR LA-100IR是一種光源，僅輸出鹵素燈的近紅外波長。 它具有內置的IR80濾光片，在不發射可見光的情況下發射近紅外光（800-1，100nm）。 該光源非常適合使用紅外波段的各種應用、物理和化學實驗、夜視觀察、特殊圖像處理等。
更新日期：2023-09-18 訪問量：182
林時計光纖光導光源LA-100IR 光學測量儀 LA-100IR是一種光源，僅輸出鹵素燈的近紅外波長。 它具有內置的IR80濾光片，在不發射可見光的情況下發射近紅外光（800-1，100nm）。 該光源非常適合使用紅外波段的各種應用、物理和化學實驗、夜視觀察、特殊圖像處理等。
更新日期：2023-09-18 訪問量：174
林時計圖像處理照明光源裝置LA-100IR LA-100IR是一種光源，僅輸出鹵素燈的近紅外波長。 它具有內置的IR80濾光片，在不發射可見光的情況下發射近紅外光（800-1，100nm）。 該光源非常適合使用紅外波段的各種應用、物理和化學實驗、夜視觀察、特殊圖像處理等。
更新日期：2023-09-18 訪問量：165
